Sobota, 23 listopada 2024, Imieniny: Adeli, Felicyty, Klemensa PL EN | |

 

JAK DOJECHAĆ


GODZINY OTWARCIA


Sezon szkolny (1 września do 30 czerwca)

WTOREK 9.00 – 16.00
ŚRODA 9.00 – 16.00
CZWARTEK 9.00 – 16.00
PIĄTEK 10.00 – 17.00
SOBOTA 11.00 – 18.00
NIEDZIELA 12.00 – 16.00

Навчальний сезон (з 1 вересня по 30 червня)

ВІВТОРОК 9.00 - 16.00
СЕРЕДА 9.00 - 16.00
ЧЕТВЕР 9.00 - 16.00
П'ЯТНИЦЯ 10.00 - 17.00
СУБОТА 11.00 - 18.00
НЕДІЛЯ 12.00 - 16.00

APLIKACJA MOBILNA


aplikacja mobilna

 

aplikacja android
aplikacja iOS

ZAKUP WYPOSAŻENIA DLA SPECJALISTYCZNEJ PRACOWNI W MUZEUM ARCHEOLOGICZNYM W POZNANIU

ZAKUP WYPOSAŻENIA DLA SPECJALISTYCZNEJ PRACOWNI W MUZEUM ARCHEOLOGICZNYM W POZNANIU

Nazwa projektu: Zakup wyposażenia dla specjalistycznej Pracowni w Muzeum Archeologicznym w Poznaniu

Miejsce realizacji: Muzeum Archeologiczne w Poznaniu, ul. Wodna 27; Dział Archeologii Pozaeuropejskiej, Pracownia Traseologiczna

Czas realizacji: Zadanie realizowano w 2017 roku

Koordynator projektu: Dr Małgorzata Winiarska-Kabacińska, kierownik Działu Archeologii Pozaeuropejskiej oraz Pracowni Traseologicznej

Rodzaj zadania: Zakup wyposażenia na potrzeby działalności kulturalnej

Finansowanie: Dofinansowano w ramach programu Infrastruktura kultury ze środków finansowych Ministra Kultury i Dziedzictwa Narodowego pochodzących z Funduszu Promocji Kultury

Cele i metody: Zakup zestawu obejmującego specjalistyczny mikroskop metalograficzny wraz z nowoczesnym, zoptymalizowanym systemem do wykonywania mikrofotografii oraz współpracującym z nim komputerem z oprogramowaniem jest konieczny dla profesjonalnego i efektywnego działania Pracowni Traseologicznej. Umożliwia on prowadzenie specjalistycznych badań i wszechstronne ich dokumentowanie.

Muzeum Archeologiczne w Poznaniu posiada w swych zbiorach kolekcje unikatowych zabytków archeologicznych pochodzących z całej zachodniej Polski, o wybitnym znaczeniu dla dziedzictwa narodowego. W Pracowni Traseologicznej prowadzone są mikroskopowe obserwacje liczących niekiedy ponad 10 tysięcy lat zabytków archeologicznych, wykonanych z krzemienia, kamienia, kości i poroża, dokumentujące kulturę materialną naszych przodków. Obserwacje te mają na celu wzbogacenie naszej wiedzy o najdawniejszych społecznościach w różnych jej aspektach oraz przyczynią się znacząco do ochrony najcenniejszego dziedzictwa kulturowego.

Zamiarem Muzeum Archeologicznego w Poznaniu jest wdrożenie programu zmierzającego do systemowej ochrony najwybitniejszych zabytków kultury materialnej z terenu Wielkopolski. Jego pierwszym etapem będzie przeprowadzenie w Pracowni Traseologicznej specjalistycznych analiz mikroskopowych najstarszych zabytków archeologicznych wykonanych z krzemienia, kości, poroża i innych surowców, identyfikujących techniki ich wykonania oraz ślady i sposoby ich użycia. W efekcie tych działań, wytypowane zostaną okazy najcenniejsze dla dziedzictwa narodowego, o najwyższej wartości kulturowej, które podlegać będą szczególnej ochronie muzealno-konserwatorskiej. Dzięki analizom mikroskopowym możliwe będzie zrozumienie, jakie znaczenie miały konkretne wytwory kultury materialnej dla naszych przodków, m. in. jaką pełniły funkcję i w jaki sposób były używane. W konsekwencji umożliwią one kompleksowe zaprezentowanie zabytków na ekspozycjach muzealnych we właściwym kontekście funkcjonalnym i kulturowym.  Zakupiony sprzęt zostanie także wykorzystany w działaniach o charakterze edukacyjnym.

 

W ramach realizacji zadania dofinansowanego w ramach programu Infrastruktura kultury ze środków finansowych Ministra Kultury i Dziedzictwa Narodowego pochodzących z Funduszu Promocji Kultury zakupiono najnowszej generacji mikroskop optyczny (metalograficzny) BX53M do prowadzenia obserwacji w świetle odbitym w jasnym, ciemnym polu, oraz polaryzacji  z kamerą cyfrową i systemem do archiwizacji obrazów. Powyższy mikroskop BX53M cechuje dodatkowa technika obserwacji Bezpośrednie Ciemne Pole, umożliwiająca wyświetlanie na żywo obrazu w dwóch technikach obrazowania MIX: jasne/ciemne pole, polaryzacja/ciemne pole. Te dwie techniki obserwacji oraz możliwość segmentowego oświetlenia pozwalają dojrzeć i uwypuklić szczegóły powierzchni próbki. Ponadto możliwe jest obrazowanie techniką EFI (obrazowanie o pogłębionej ostrości), która generuje ostry obraz oraz obraz trójwymiarowy na podstawie szeregu akwizycji wykonanych wzdłuż osi Z.